dc.contributor.author |
อดิศร บูรณวงศ์ |
|
dc.contributor.other |
มหาวิทยาลัยบูรพา. คณะวิทยาศาสตร์ |
th |
dc.date.accessioned |
2023-08-09T08:58:58Z |
|
dc.date.available |
2023-08-09T08:58:58Z |
|
dc.date.issued |
2561 |
|
dc.identifier.uri |
https://buuir.buu.ac.th/xmlui/handle/1234567890/9292 |
|
dc.description |
โครงการวิจัยประเภทงบประมาณเงินรายได้จากเงินอุดหนุนจากรัฐบาล (งบประมาณแผ่นดิน) ประจำปีงบประมาณ พ.ศ. 2560 |
th_TH |
dc.description.abstract |
ฟิล์มบางไทเทเนียมโครเมียมไนไตรด์ (TiCrN) เคลือบด้วยวิธีรีแอกทีฟดีซีแมกนีตรอนโคสปัตเตอริง
เพื่อศึกษาผลของปริมาณโครเมียมต่อโครงสร้างของฟิล์มที่เคลือบได้ โดย โครงสร้างผลึก โครงสร้างจุลภาคลักษณะพื้นผิว ความหนาและองค์ประกอบทางเคมี ศึกษาด้วยเทคนิค XRD, FE-SEM และ EDX ตามลำดับ
ผลการศึกษาพบว่าฟิล์มที่เคลือบได้เป็นสารละลายของแข็งของ (Ti,Cr)N โดยโครงสร้างของฟิล์มเปลี่ยนตามอัตราไหลแก๊สไนโตรเจนและปริมาณโครเมียม (1) กรณีแปรค่าอัตราไหลแก๊สไนโตรเจน ขนาดผลึกของฟิล์มมีค่าในช่วง 14.9 – 31.7 nm และค่าคงที่แลตทิซมีค่าในช่วง 4.133 - 4.197 Å ส่วนความหนามีค่าลดลงจาก 1230 nm เป็น 480 nm เมื่อเพิ่มอัตราไหลแก๊สไนโตรเจน สำหรับการวิเคราะห์ภาคตัดขวางแสดง พบว่าฟิล์มที่เคลือบได้มีโครงสร้างแบบคอลัมนาร์และมีลักษณะแน่นมากขึ้นตามอัตราไหลแก๊สไนโตรเจนองค์ประกอบทางเคมีในฟิล์มแปรค่าตามอัตราไหลแก๊สไนโตรเจน และ (2) กรณีแปรค่าปริมาณโครเมียมขนาดผลึกของฟิล์มมีค่าในช่วง 22.4 – 41.6 nm และค่าคงที่แลตทิซมีค่าในช่วง 4.136 - 4.223 Å ส่วนความหนามีค่าลดลงจาก 1689 nm เป็น 642 nm เมื่อเพิ่มปริมาณโครเมียม ภาคตัดขวางแสดงว่าฟิล์มที่เคลือบได้มีโครงสร้างแบบคอลัมนาร์และมีลักษณะแน่นมากขึ้นตามปริมาณโครเมียม ส่วนองค์ประกอบทางเคมีในฟิล์มแปรค่าตามปริมาณโครเมียม |
th_TH |
dc.description.sponsorship |
สำนักงานคระกรรมการวิจัยแห่งชาติ |
th_TH |
dc.language.iso |
th |
th_TH |
dc.publisher |
คณะวิทยาศาสตร์ มหาวิทยาลัยบูรพา |
th_TH |
dc.subject |
ฟิล์มไทเทเนียมโครเมียมไนไตรด์ |
th_TH |
dc.title |
ผลของปริมาณโครเมียมต่อโครงสร้างของฟิล์มบางไทเทเนียมโครเมียมไนไตรด์ ที่เตรียมด้วยวิธีรีแอคตีฟแมกนีตรอนโคสปัตเตอริง |
th_TH |
dc.title.alternative |
Effect of Chromium Contents on Structure of TiCrN Thin Film Prepared by Reactive Magnetron Co-Sputtering Method |
en |
dc.type |
Research |
th_TH |
dc.author.email |
adisornb@buu.ac.th |
th_TH |
dc.year |
2561 |
th_TH |
dc.description.abstractalternative |
Titanium chromium nitride (TiCrN) thin films were deposited by reactive DC magnetron
co-sputtering method. The effect of the chromium contents on the as-deposited films’
structure was investigated. The crystal structure, microstructure, surface morphology,
thickness and elemental composition were characterized by XRD, FE-SEM and EDX
technique, respectively. The results showed that the as-deposited films were (Ti,Cr)N solid
solution. The structure of the as-deposited films varied with the chromium contents.
(1) In case of varied the N2 gas flow rate, the crystal size was in range of 14.9 – 31.7 nm,
the lattice constant was in range of 4.133-4.197 Å. The thickness decreased from 1230 nm
to 480 nm with increasing of the chromium contents. The cross section analysis showed
compact columnar and dense morphology as increasing of the chromium contents.
The elemental composition of the as-deposited films varied with the chromium contents.
(2) In case of varied the chromium contents, the crystal size was in range of 22.4–41.6 nm,
the lattice constant was in range of 4.136-4.223 Å. The thickness decreased from 1689 nm
to 642 nm with increasing of the chromium contents. The cross section analysis showed
compact columnar and dense morphology as increasing of the chromium contents.
The elemental composition of the as-deposited films varied with the chromium contents. |
en |